Aprašymas
Mūsų siūloma spektroskopinių elipsometrų linija M-2000® sukurta taip, kad atitiktų įvairiausius plonos dangos apibūdinimo reikalavimus. M-2000® elipsometrai skirti plonų dangų arba daugiasluoksnių struktūrų paviršiaus analizei. Elipsometru taip pat galima nustatyti tiriamos medžiagos šiurkštumą, storį (gylį), kristalinę struktūrą, legiravimo koncentraciją, elektrinį laidumą ir kitas savybes. Nepaprastai galingame ir universaliame įrankyje integruotas pažangus optinis dizainas, platus spektrinis diapazonas ir greitas duomenų gavimas, padedantis efektyviai užtikrinti nepriekaištingą greitį ir tikslumą.
M-2000® – tai pirmasis elipsometras, kuris vienu metu gali išmatuoti visus bangų ilgius – daugiau nei 700 bangų ilgių nuo ultravioletinių iki artimųjų infraraudonųjų spindulių. Nepralenkiamas savo pažangia, patentuota RCE (besisukančio kompensatoriaus) technologija, aukščiausiam tikslumui ir preciziškumui pasiekti. Elipsometre integruotas modulinis optinis dizainas leidžia prietaisą lengvai pritvirtinti prie proceso kameros arba sukonfigūruoti prie bet kurio stalviršio.
Susisiekite su mūsų produktų specialistais, kurie pristatys ir padės išsirinkti tinkamiausią elipsometrą Jūsų laboratorijai.
